BWT-4902

Analisi Raman della struttura cristallina del silicio

Sommario

La spettroscopia Raman a eccitazione di 532 nm viene utilizzata per studiare il contenuto cristallino e amorfo dei film di silicio a fase mista.

Download BWT-4902 (EN)

Contatto

Metrohm Italiana Srl

Via G. Di Vittorio, 5
21040 Origgio (VA)

Contatto

Find Applications

Perfeziona la tua ricerca(426)

Questa applicazione è stata taggata sotto

// Chemical

ASTM G5: Misure di polarizzazione anodica potenziodinamica

// Education & basic research // potenziale di ossidoriduzione (POR) // Elettrochimica

ASTM G61: Metodo di prova standard per la conduzione della polarizzazione potenziodinamica ciclica

// Education & basic research // Elettrochimica // Energia

Sodium content in food using an ion-selective electrode

// Alimentari – latticini // Misura della conducibilità pH ioni ossigeno disciolto // AOAC 976.25

Sodium content in water using an ion-selective electrode

// Misura della conducibilità pH ioni ossigeno disciolto // AOAC 976.25 // Prodotti chimici

2 / 4