BWT-4902
Analyse Raman de la cristallinité du Si
Résumé
La spectroscopie Raman avec une excitation à 532 nm est utilisée pour étudier le contenu cristallin et amorphe de films de silicium en phase mixte.
BWT-4902
La spectroscopie Raman avec une excitation à 532 nm est utilisée pour étudier le contenu cristallin et amorphe de films de silicium en phase mixte.