BWT-4902

Raman Analysis of Si Crytallinity

Summary

Raman spectroscopy at 532 nm excitation is used to study the crystalline and amorphous content of mixed phase silicon films.

Kontakt

Sandviksveien 26
1363 Høvik

Finn Applikasjoner

Begrenset søket ditt

Denne applikasjonen er merket under

// Chemical// Electronics & semiconductors