Chuyển hướng tin nhắn

BWT-4902

Raman Analysis of Si Crytallinity


Tóm tắt

Raman spectroscopy at 532 nm excitation is used to study the crystalline and amorphous content of mixed phase silicon films.

Liên hệ

CÔNG TY TNHH METROHM VIỆT NAM

Tòa nhà Park IX, số 08 Đường Phan Đình Giót, Phường 2, Quận Tân Bình
Thành phố Hồ Chí Minh

Liên hệ

Tìm kiếm ứng dụng
Lọc tìm kiếm của bạn

Ứng dụng này được gắn thẻ là

// Chemical