BWT-4902

Raman Analysis of Si Crytallinity

Summary

Raman spectroscopy at 532 nm excitation is used to study the crystalline and amorphous content of mixed phase silicon films.

Download BWT-4902 (EN)

İletişim

Metrohm Turkey

Ayazağa Mah. Azerbaycan Cad. No. 3I
34396 İstanbul

İletişim

Uygulamaları Bulun

Aramanızı geliştirin(433)

Bu uygulama şurada etiketlenmiştir

// Chemical

Sodium content in food using an ion-selective electrode

// Gıda – süt ürünleri // pH-İyon-DO-iletkenlik ölçümü // AOAC 976.25

Sodium content in water using an ion-selective electrode

// pH-İyon-DO-iletkenlik ölçümü // AOAC 976.25 // Kimyasal

Near-infrared and Raman spectroscopy for polymer analysis: An introduction

// Nem-su // Kimyasal // Spektroskopi (NIRS-Raman)

Water content in propylene glycol monomethyl ether (PGME)

// Nem-su // Kimyasal // Çözücüler

2 / 4