BWT-4902

Raman-Analyse der Kristallinität von Silizium

Zusammenfassung

Die Raman-Spektroskopie mit einer Laseranregung bei 532 nm wird verwendet, um den kristallinen und amorphen Anteil von Mischphasen-Siliziumschichten zu untersuchen.

Download BWT-4902 (EN)

Kontakt

Metrohm Schweiz AG

Industriestrasse 13
4800 Zofingen

Kontakt

Applikationen finden

Verfeinern Sie Ihre Suche

Diese Applikation wurde getaggt unter

// Chemical