Zostałaś(eś) przekierowany do lokalnej wersji strony

BWT-4902

Raman Analysis of Si Crytallinity


Summary

Raman spectroscopy at 532 nm excitation is used to study the crystalline and amorphous content of mixed phase silicon films.

Kontakt

Metrohm Polska

ul. Centralna 27
05-816 Opacz-Kolonia

Kontakt