AN-NIR-005
通过近红外光谱技术测定尼龙纤维的涂层
概要
本应用说明描述如何通过近红外光谱技术以快速且无需样品准备、无需消耗试剂的方式来测定尼龙纤维上涂层的含量。为消除因表面涂层散射而造成的影响,可采用光谱的二阶导数;线性回归(最小二乘法)方法用于计算校正函数。
AN-NIR-005
本应用说明描述如何通过近红外光谱技术以快速且无需样品准备、无需消耗试剂的方式来测定尼龙纤维上涂层的含量。为消除因表面涂层散射而造成的影响,可采用光谱的二阶导数;线性回归(最小二乘法)方法用于计算校正函数。