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通过近红外光谱技术测定聚合物颗粒中的添加剂

AN-NIR-004

zh

通过本应用说明可证明 NIR 光谱分析非常适合用于检测聚丙烯颗粒中极低含量的添加剂。以 UV 稳定器 Tinuvin 770 和抗氧化剂 Irganox 225 为例介绍测定方法。采用多元线性回归(MLR)可将因不同层厚和聚合物颗粒干扰而导致的干扰最小化。

通过本应用说明可证明 NIR 光谱分析非常适合用于检测聚丙烯颗粒中极低含量的添加剂。以 UV 稳定器 Tinuvin 770 和抗氧化剂 Irganox 225 为例介绍测定方法。采用多元线性回归(MLR)可将因不同层厚和聚合物颗粒干扰而导致的干扰最小化。

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