Applications
- 410000002-BCaractérisation atline du noir de carbone à l'aide d'un spectromètre Raman portable
Cet article présente la spectroscopie Raman portable comme outil efficace de caractérisation atline (près de la production) du noir de carbone. L'analyse spectroscopique Raman peut tester efficacement le noir de carbone.
- 410000059-BCharacterization of carbon materials with Raman spectroscopy
Raman spectroscopy is a valuable tool for the characterization of carbon nanomaterials due to its selectivity, speed, and ability to measure samples nondestructively. Carbon materials typically have simple Raman spectra, but they contain a wealth of information about internal microcrystalline structures in peak position, shape, and relative intensity.
- 8.000.6059Détermination de substances dangereuses dans les équipements électriques et électroniques
La directive sur le limitation des substances dangereuses (RoHS) 2002/95/CE prévoit des limites maximales pour les métaux dangereux, le cadmium, le plomb et le mercure ainsi que le chrome hexavalent et les retardateurs de flamme bromés dans les produits électriques et électroniques. Pour garantir la conformité, des méthodes d’analyse fiables sont exigées. Ce poster traite de la détermination chimique humide de concentrations à l’état de traces des six substances limitées par RoHS dans une grande variété de matériaux, comprenant des métaux, des composants électrotechniques, des matières plastiques et des câbles. Après la préparation de l’échantillon selon la norme CEI 62321, les métaux tels le plomb, le cadmium et le mercure sont déterminés au mieux par voltampérométrie inverse anodique (ASV) et les retardateurs de flamme PBB et PBDE sont quantifiés par chromatographie ionique à injection directe (CI) à l’aide de la détection spectrophotométrique. Le chrome(VI) peut être déterminé par voltampérométrie inverse d’adsorption (AdSV) ou CI. Les deux méthodes sont très sensibles et conformes aux limites prescrites par la directive RoHS.
- 8.000.6063Chimie post-colonne pour une détection par absorption optique améliorée
La détection UV/VIS est l’une des techniques de détection les plus sensibles de la chromatographie à l’état de traces. Parfois, cependant, la détection par spectrophotométrie manque de sensibilité, de sélectivité ou de reproductibilité et des dérivatisations chimiques sont nécessaires. En utilisant le réacteur à flux continu robuste et polyvalent de Metrohm, des dérivatisations à étape unique ou multiple peuvent être effectuées de manière entièrement automatique, soit en mode pré-colonne soit en mode post-colonne à toute température entre 25 et 120 °C. La géométrie variable du réacteur permet d’ajuster le temps de séjour des réactifs dans le réacteur selon une cinétique de dérivatisation. La flexibilité du réacteur est démontrée par l’optimisation de quatre techniques post-colonne répandues : la réaction à la ninhydrine relativement lente avec des acides aminés et les dérivatisations rapides de silicate, bromate et chromate(VI).
- 8.000.6073Détermination d'anions dans de l'acide nitrique concentré à l'aide de la chromatographie ionique: influence de la température sur la sélectivité
Détermination des chlorures et sulfates en présence de fortes concentrations en nitrates. Optimisation de la séparation chromatographique par variation de température et de la composition de l'éluant.
- AB-147Dosage simultané de traces de sept métaux dans les matériaux de «pureté électronique», utilisant la voltampérométrie inverse
Les métaux Cd, Co, Cu, Fe, Ni, Pb et Zn sont dosés dans la gamme sub-ppb (limite de détection 0.05 µg/l.) par la méthode de la voltampérométrie inverse. Pour Cd, Cu, Pb et Zn, la méthode DP-ASV (complexes de diméthylglyoxime) est appliquée; pour Co, Ni et Fe la méthode DP-CSV (complexes de pyrocatéchol).Le VA Processor et le Passeur d'échantillons permettent de déterminer automatiquement les ions cités dans une solution. Cette méthode a été élaborée tout spécialement pour l'analyse de traces dans les semi-conducteurs à base de silicium. Il va sans dire qu'elle est également d'un grand intérêt pour l'analyse environnementale.
- AB-344Analyse automatisée des mélanges de liquides caustiques avec le 859 Titrotherm et le 814 USB Sample Processor
Ce Bulletin traite de la détermination automatisée des mélanges de HNO , HF et H SiF dans une plage d’environ 200-600 g/L HNO , 50-160 g/L HF et 0-185 g/L H SiF par titrage thermométrique. Les mélanges d’acides à graver contenant du HNO , HF et H SiF de la gravure de substrats de silicone peuvent être analysés en une séquence de deux déterminations avec le 859 Titrotherm. La première détermination consiste en un titrage direct avec une solution standard c(NaOH) = 2 mol/L suivie d’un titrage de retour avec c(HCl) = 2 mol/L. Cette détermination fournit la teneur en H SiF et une valeur combinée de la teneur en (HNO +HF). La seconde détermination effectue un titrage avec c(Al ) = 0,5 mol/L pour calculer la teneur en HF. Dans le cas de mélanges fraîchement réalisés de HNO et HF ne contenant pas de H SiF , on emploie une séquence à deux titrages. Les résultats des deux déterminations sont appliqués pour obtenir les résultats individuels de HNO , HF et H SiF
- AB-435Connexion de l'Eco Titrator au PC
Les Eco Titrator offrent la possibilité d'envoyer des rapports PC/LIMS directement sur un ordinateur. Cette fonction est surtout utilisée pour transférer des données vers un système LIMS externe ou pour tout simplement stocker des données sous forme numérique sur un ordinateur. En outre, il est possible de contrôler l'Eco Titrator par des commandes RS232 si la connexion est configurée selon la procédure décrite ci-dessous.Les données de l'Eco Titrator peut être transférées vers un PC à l'aide d'une option logicielle ou matérielle. Des accessoires supplémentaires sont requis pour l'option matérielle, tandis que pour l'option logicielle, deux logiciels supplémentaires devront être installés. Ce document décrit les deux solutions.
- AB-444Installation instruction: MVA-24 – 884 Professional VA fully automated for CVS with 858 Professional Sample Processor and Dosino sample transfer
This Application Bulletin contains installation instructions for the MVA-24 CVS setup used to measure suppressors, brighteners, and levelers in plating solutions.
- AN-C-149Détermination d'ions à la surface des cartes imprimées
La propreté est indispensable pour la production électronique. La contamination ionique notamment a pour conséquence une grave altération de la qualité des cartes imprimées. Cette Application Note décrit la détermination des cations à la surface des cartes imprimées. La technique d'injection intelligente Partial-Loop de Metrohm (MiPT) employée permet de déterminer les cations et les anions dans un même échantillon. La détermination des anions est décrite dans AN-S-317.